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一.目的:為正確使用儀器,避免因不當使用導(dǎo)致儀器損壞,確保儀器使用壽命及測試準確度。二.范圍:用于進料、制程、出貨階段之(原物料、輔材、半成品、成品等)環(huán)境有害物質(zhì)檢測分析。三.ROHS檢測儀開機與關(guān)機順序:1.開機順序:開穩(wěn)壓電源開測試儀(綠燈亮)開電腦主機打開測試程序軟件。2.關(guān)機順序:退出測試程序軟件關(guān)電腦主機關(guān)測試儀關(guān)穩(wěn)壓電源。四.ROHS檢測儀指示燈說明:1.綠燈-[電源指示燈]:打開儀器電源此燈亮。2.黃燈-[運行指示燈]:儀器測試運行時此燈亮,測試結(jié)束此燈自動熄...

ROHS檢測儀在儀器檢測、儀器校準行業(yè)中發(fā)揮著重要的作用，對于RoHS檢測儀設(shè)備生產(chǎn)廠家或者儀器校準第三方機構(gòu)來說，了解RoHS檢測儀的保養(yǎng)，如何保養(yǎng)維護好RoHS檢測儀非常重要。以下就是儀器檢測技術(shù)工人的總結(jié)：一、儀器工作的外部環(huán)境1、周圍強磁場干擾設(shè)備合理的工作環(huán)境，要求在沒有電機、振動、電磁、高壓或有高頻率電焊器等電磁干擾的地方安裝，否則會干擾設(shè)備的譜形或造成設(shè)備不能正常工作。2、環(huán)境溫度，濕度的影響應(yīng)保持室溫20～25℃為宜，氣溫過高或過低都會影響設(shè)備的正常運作，所以...

含鉛檢測儀器空白與樣品所用試劑的純度和容器的潔凈度有關(guān)。再加之，鉛廣泛分布于自然界。因此，鉛的檢測是易污染、*低的痕量分析，空白越低，準確度越高。所以，要求整個實驗空白要很低，實驗過程中要嚴格控制污染。1.實驗用水應(yīng)符合GB/T6682-2008《分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法》二級水的要求。2.實驗試劑應(yīng)使用優(yōu)級純，如果沒有符合純度要求的試劑，可采用化學(xué)法進行提純，但是在提純過程中，要注意避免溶劑二次沾污的可能性，同時實驗選用的試劑，還應(yīng)以不沾污待測元素為基準（在實驗中，如果...

1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進行表面清潔，不可用堿性或酸性清潔劑，應(yīng)使用中性清潔劑。2、內(nèi)部與探測器的清潔，在清潔過程中，必須注意不要將異物掉入測試窗口中，測試窗口應(yīng)該保持清潔，同時不能使用硬物接觸測試窗口內(nèi)，防止損傷探測器窗口和X光管窗口。3、開合蓋子需要注意什么問題儀器上禁止擺放茶杯，重物等與測試無關(guān)的物品，以免污染或損傷儀器。4、國產(chǎn)ROHS儀器的維護及安全使用方法(a)儀器測試窗口為裸露狀態(tài)時，必須保證無異物進入測試窗口內(nèi)。(b)儀器的測試窗口下方是進口探...

臺式x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。臺式x熒光光譜儀中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經(jīng)過簡單的切割達到國產(chǎn)X熒光光譜儀分析的要求，只...

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,...

ICP光譜儀應(yīng)用范圍都有哪些?ICP光譜儀它的迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開的，ICP光譜法是上世紀60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來的一種分析方法。近代的光譜儀大都采用微型計算機處理實驗結(jié)果，ICP光譜儀是當前光譜分析中zui迅速zui靈敏的一種儀器。光譜儀是上述各種儀器的總稱，各種光譜儀的形式各異。ICP光譜儀應(yīng)用范圍一、地礦樣品的分析：包括地質(zhì)樣品、礦石及礦物等。二、動植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動物組織、生物化學(xué)樣品等。三、核...

EXF鍍層測厚儀原子的特性由原子序來決定，亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。EXF鍍層測厚儀是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守...